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簡(jiǎn)要描述：儀器在研究域廣泛應(yīng)用于電化學(xué)機(jī)理研究，電過程動(dòng)力學(xué)研究、材料、金屬腐蝕、生物學(xué)、學(xué)、藥物 電化學(xué)作站學(xué)、環(huán)境生態(tài)學(xué)等多學(xué)科域的研究。
產(chǎn)品型號(hào)：MHY-29351廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-07-16訪 問 量：733產(chǎn)品分類
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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電化學(xué)作站 型號(hào)：MHY-29351
MHY-29351型微機(jī)電化學(xué)分析系統(tǒng)（作站）是新研制開發(fā)的檔次電化學(xué)分析儀器。本系統(tǒng)是家科2000年火炬計(jì)劃項(xiàng)目，是教育實(shí)施“211程”，面向際招標(biāo)的中標(biāo)產(chǎn)品，是教育頒發(fā)的“基礎(chǔ)課教學(xué)實(shí)驗(yàn)室建設(shè)方案”所列儀器。該儀器提供的方法多，可以機(jī)多用，即可以在同臺(tái)儀器上開出三十多種不同方法的電化學(xué)與電分析化學(xué)實(shí)驗(yàn)，使用靈活方便，實(shí)驗(yàn)曲線實(shí)時(shí)顯示，使實(shí)驗(yàn)過程更加直觀、方便。另外，該儀器在研究域廣泛應(yīng)用于電化學(xué)機(jī)理研究，電過程動(dòng)力學(xué)研究、材料、金屬腐蝕、生物學(xué)、學(xué)、藥物學(xué)、環(huán)境生態(tài)學(xué)等多學(xué)科域的研究。例如測(cè)定環(huán)境樣品（廢水、廢氣、廢渣等）中的污染物無機(jī)金屬離子、有機(jī)物（酚類、酮類、芳香族化合物）污染分析，農(nóng)藥分析等；分析測(cè)定食品樣品中金屬離子、色素、味素、防腐劑、維生素、氨基酸、致癌物等；石油化產(chǎn)品；理化分析、試劑分析、臨床檢驗(yàn)、藥物與藥物中間體分析、冶金分析、生化、放化及核污染分析等。
、 電化學(xué)作站 性能點(diǎn)
(1) 32位Windows中文界面
測(cè)試系統(tǒng)軟件采用32位Windows風(fēng)格的軟件界面，操作簡(jiǎn)單直觀。實(shí)時(shí)觀察窗口、圖形數(shù)據(jù)體化窗口的運(yùn)用，使得測(cè)試過程直觀效。軟件在運(yùn)行中，對(duì)用戶的操作及數(shù)據(jù)的有效性、整性行了充分地檢查，適時(shí)給出提示或警告。
(2) 數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示
LK98BII具有數(shù)據(jù)列表能，能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)量結(jié)果和打開文件的數(shù)據(jù)，確保你方便地查看實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
(3) 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)及圖形處理
LK98BII微機(jī)電化學(xué)系統(tǒng)上位機(jī)軟件可直接處理數(shù)據(jù)點(diǎn)，并能以十余種圖形方式顯示測(cè)量結(jié)果，觀察實(shí)驗(yàn)結(jié)果十分方便。
二、作環(huán)境
1）環(huán)境溫度：-15oC ~ 45 oC
2）環(huán)境相對(duì)濕度：< 75%
3）儀器四周通風(fēng)良好，空氣中不含腐蝕性氣體。
4）儀器周圍無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾。
5）當(dāng)交幅值<10mV時(shí)，電解池需要利用Faraday箱行屏蔽。
6）電源電壓：AC220V（50Hz）10%。
三、可提供的電化學(xué)方法：（40種方法）
恒電位：?jiǎn)坞娢浑A躍計(jì)時(shí)電法、雙電位階躍計(jì)時(shí)電法、計(jì)時(shí)電量法、電—時(shí)間曲線、開路電位--時(shí)間曲線、控制電位電解庫侖法、電位溶出E-T曲線、微分電位溶出分析法。
線性掃描：線性掃描伏安（譜）法、循環(huán)伏安法及無限次循環(huán)伏安、塔菲爾曲線、采樣電伏安（譜）法、線性掃描溶出伏安法。
脈 沖 術(shù)：常規(guī)脈沖伏安（譜）法、差分脈沖伏安（譜）法、差分常規(guī)脈沖伏安（譜）法、差分脈沖溶出伏安法。
方波： 方波伏安（譜）法、循環(huán)方波伏安法、方波溶出伏安法。
交： 交伏安法、選相交伏安法、二次諧波交伏安法、交溶出伏安法
恒電：?jiǎn)坞婋A躍計(jì)時(shí)電位法、雙電階躍計(jì)時(shí)電位法、線性電計(jì)時(shí)電位法、控制電電解庫侖法。
電化學(xué)檢測(cè)方法：電位分析-作曲線法、電位分析-標(biāo)準(zhǔn)加入法、恒電位安培檢測(cè)、方波電位安培檢測(cè)。
四、規(guī)格
1 恒電位/恒電
電位分辨率（對(duì)） 0.1mV 電靈敏度 ≤50pA
時(shí)間分辨率（計(jì)時(shí)分析法） 1uS
2 動(dòng)態(tài)參數(shù)調(diào)整
電勢(shì)控制范圍: -10.0～+10.0V 恒電范圍: -500～+500mA
槽 壓:-50V～+50V 電位增量: 0.1mV～50V
脈沖寬度: 0.0001～10Sec 方波頻率: 1～100KHz
交頻率: 1～10KHz 二次諧波交頻率: 1～1KHz
采樣間隔: 0.0001～60000Sec 平衡時(shí)間: 0～60000Sec
濾波參數(shù): 50Hz～1000KHz 電勢(shì)信號(hào)掃描范圍: 10.0V
掃描速度: 0.1mV/S～5000V/S（△E=1mV） 脈沖間隔: 0.0001～60000Sec
脈沖振幅: 0.001～0.5V 方波幅度: 0.001～0.5V
交幅度: 0.001～0.4V 電解時(shí)間: 1～60000Sec
電沉積時(shí)間: 0～60000Sec 電測(cè)量范圍: ±100mA～±10nA (8個(gè)量程檔位)
低噪聲程控放大: 1～64倍
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